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辉光放电光谱仪

仪器编号
GD Profiler 2
照片
生产厂家
堀场（中国）贸易有限公司
仪器介绍
薄/厚镀层元素的定性、定量分析导体、非导体、半导体材料皆可分析可测定70多种元素，包括C、H、O、N及CI纳米级深度分辨率分析速度达到2-10nm/s专利脉冲模式适用于热敏、脆性样品无基体效应为SEM制备样品与SIMS、XPS等技术交补。

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