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纳米粒度及zeta电位分析仪

仪器编号
Nanotrac Wave
照片
生产厂家
大昌华嘉香港有限公司
仪器介绍
采用最新的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法*专利的“Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位，避免样品交叉污染与浓度变化。专利的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。专利的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的

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