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大面积FASTSDD硅漂移探测器

仪器编号
70mm2 FAST SDD
照片
生产厂家
AMPTEK,INC
仪器介绍
性能指标70mm2大面积有效区域,准直器后到50mm2;Mn5,9Kev分辨率达到123eV;计数率>2000,000CPS;峰背比-26,000/1;前方输出上升时间<60ns;窗口类型:Be(0.5mil)12.5μm,or C2(Si3N4);耐辐射,晶体厚度500μm,TO-8Package,Cooling △T>85K,多层准直器。