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激光剥蚀进样及激光诱导击穿光谱复合系统

仪器编号
J200 TANDEM
照片
生产厂家
北京恒天科技发展有限公司
仪器介绍
激光器:213nm/266nm(可选):样品室:XYZ轴运动;高度自动调节;样品激光辅助聚焦;高分辨率双CMOS相机系统;双通道高精密度质量流量控制器和电子控制阀门;Axiom TANDEM软件系统:整合控制硬件组件及ICP-MS同步操作,轻松实现繁杂的激光采样于分析模式;强大的自带数据分析工具用于LA-ICP-MS串联光谱分析,不需要借助第三方软件,节省测试人员数据分析的时间和工作强度;自带TruIIBSTM真实等离子体数据库,快速准确识别复杂的LIBS发射峰。