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GC-126PDD/CF4分析专用氦离子化气相色谱仪
1 统依据的标准:
电子工业用气体 四氟化碳Gases for electronic industry—Tetrafluoromethane
GC-126PDD氦离子化气相色谱仪
GC-126PDD氦离子化气相色谱仪适用于高纯气体、超高纯气体及电子工业用气体中痕量杂质的检测。该产品以GC-126气相色谱仪为载体,配备VALCO公司生产的氦离子化(PDHID)检测器;采用克柔姆公司拥有专业技术的四阀五柱的中心切割与反吹技术,其中的所有进样和切换阀均为VALCO公司生产的带吹扫保护气路的六通或十通阀;上述部分与VALCO公司原装的氦气纯化器、无死体积取样阀等部件一起组成一套完整的高纯气体分析整体及解决方案。
高纯气体的分析是一个复杂的过程,不仅需要高灵敏的检测器,还要考虑样品本身的特性及其背景,如吸附、取样及分析过程中是否有空气混入、系统的密闭性、系统的死体积等环节,克柔姆色谱公司总结了高纯气体分析过程中的技术难点,并给出了所有难点的解决措施,使GC-126PDD氦离子化气相色谱仪成为国内最专业的高纯气体分析系统,很好的完成了气体中微量杂质,特别是ppb级的杂质的分析。
产品的特点:
◆ 气体行业专业色谱技术成套解决方案
◆ 采用VICI公司Valco带吹扫型十通与六通切换阀控制气路
◆ 应用气体分离专用色谱柱分离预切再分离技术
◆ 采用本公司专利技术的可分离与嵌入式单体控温柱炉
◆ 工艺流程采用多路精密零死体专用阀控制多维色谱分离柱流量
◆ 分析流程全部采用Valco公司316不锈钢管路与专用镀金接头
◆ 核心灵敏部件采用Valco公司PDHID脉冲氦离子检测器
◆ 成套专业化的数字与全中文反控气相色谱仪
技术特点:氦离子化气相色谱仪
嵌入式32位处理器及多CPU系统开发,IT接口相关技术,实现温度参数自动设置、检测器选择、检测器操作参数和数据化自动调零功能、灵敏度和极性数字化设置。
全中文菜单操作界面,同时可显示多组参数,操作非常简单方便。
计算机反控功能,可以通过计算机操作仪器内部所有功能(通过USB接口实现)。
高精度计时器集8路外部事件控制, 可集成多个文件对应存储。
无需外接工作站并提供模拟输出接口。
氦离子化气相色谱仪
柱温箱:
◆温度范围:室温加5℃- 400℃
◆控制精度:±0.1℃
◆程序升温:9阶
◆最大升温速率:60℃/min
◆双通道色谱柱流失补偿
进样器:氦离子化气相色谱仪
◆最多可装载三个进样器(2个填充柱进样,1个毛细管柱进样)或2个毛细管柱进样器。
◆进样器单元:有独立的分流/不分流进样器系统和填充柱进样器系统
检测器:
◆最多可装载三个检测器
◆氢火焰离子检测器(FID):
温度范围为室温加7℃~ 400℃;检测限 ≤4×10-12g/s,样品:C16
◆高灵敏度热导检测器(高TCD):
温度范围为室温加7℃~ 400℃;灵敏度≥5000mv•ml/mg
产品的成套配置:氦离子化气相色谱仪
仪器名称
型号规格 厂家 数量 报单价 合计价 备注
氦离子化气相色谱仪
GC-126PDD 上分厂/ 克柔姆 1台
配备PDHID氦离子化检测器
多柱箱系统 上分厂/ 克柔姆 1套 可以根据分析的需要设置不同的柱箱温度,以满足样品分离的需要
中心切割与 反吹系统:
吹扫十通阀1只;吹扫六通阀2只. VALCO /克柔姆 1套
配备3个带吹扫保护气路的原装进口阀:二次进样,
无需更换色谱柱即可完成对氢、氧、氮、氩、
二氧化碳等多种样品中痕量杂质的分析。
色谱柱: Hayesep Q ; Hayesep R ; MS 5A * 3 支 克柔姆 3根 可分离样品中的H2、O2
N2、CO、CO2、CH4等杂质
CO防拖尾处理技术
载气纯化器:
HP-2 VALCO 1台 杂质含量≤10ppb
载气过滤器 VALCO 1个 2μm孔径
样品过滤器 VALCO 1个 20μm孔径
标准气体 1套 含:
一、分析5N纯度的CF4配标气
1.氢气 5 PPM
2、氧气 5 PPM
3.氩气 5 PPM
4、氮气 10 PPM
5、二氧化碳 5 PPM
6、一氧化碳 5 PPM
7、六氟化硫 10 PPM
8、四氟化碳 50PPM 定性
9、二氟甲烷 CH2F2 10 PPM
10、三氟甲烷 CHF3 10 PPM
11、六氟乙烷 C2F6 10 PPM
余气:He(共1瓶) 8 L
高纯氦气:40L 1瓶 自备 / 纯度不低于99.999%
高纯氮气:40L 1瓶 自备 / 作为自动阀的驱动气使用
无死体积专用
取样阀带吹扫 克柔姆 4个取样时防止空气渗入,带放空结构设计
载气专用两级
不锈钢减压阀 HORO 1个 HORO两级减压稳流
高纯气专用色谱工作站 克柔姆 1套 自动控制切割、反吹、进样等过程;并实现对色谱主机的操作控制
技术参数:
仪器的应用范围:
1.本仪器主要应用于高纯CF4气体中微量杂质的分析,具体内容详见下表:
气体种类 | 需分析的杂质种类 | ||||||||
He载气 | H2 | O2 / Ar | N2 | CO | SF6 | CO2 | CH2F2 | CHF3 | C2F6 |
仪器的最小 检测限(PPb) |
30 | 30 | 30 | 50 | 50 | 30 | 50 | 50 | 50 |