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显微颗粒图像分析仪

仪器编号
JX-2000
仪器参数
[{"测量时间":"10分钟"},{"分辨率":"高于1微米"},{"测量范围":"0.5μm～3000μm"},{"重现性":"小于3%"},{"分散方式":"干湿法分散"},{"仪器种类":"颗粒图象分析仪"}]
生产厂家
成都精新粉体测试设备有限公司
仪器介绍
JX-2000颗粒图像分析仪 一、应用范围 适用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金刚石、金属粉、碳粉、药粉、涂料、水泥、硬质合金、催化剂、云母粉、填料等各种粉末物料颗粒的形貌观察和粒度分析。 二、性能特点1. JX-2000颗粒图像分析仪，工业级摄像头高速采集，光学显微镜放大成像，图像快速显示于电脑，直接观察颗粒形貌，专用软件进行颗粒数据处理。2. 测量范围：0.5μm～3000μm3. 接口方式：USB连接。4. 平场消色差物镜，最大分辨率0.07微米，最大光学放大倍数1600倍，打印最大倍数4000倍(A4幅面)。5. 供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积、圆形度等分布数据。同时提供颗粒数、D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等粒度分布数据，配有(30)多种图像分析和处理功能，可以满足各种图像处理需要。6. 对采集的图像进行调整高度、宽度、亮度、对比度、滤波、填充等，提高分析分辨率，网格标注颗粒尺寸等功能，使测试结果更真实可靠。7. 仪器分二种型号，技术原理、参数都相同，JX-2000A型颗粒图像分析仪配置透射显微镜，JX-2000B型颗粒图像分析仪配置透反射显微镜，后者还可用于陶瓷、金属等各种不透光物体表面晶形的观察分析。8. 颗粒形貌图像可存盘和打印，还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业特殊要求，设计磨料、硅灰石等专用软件。三、 图像分析处理功能 1. 色调处理：负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整；2. 图像矫正：水平镜像、垂直镜像、90度（逆时针)、90度(顺时针) 、旋转、放大、缩小任意比例缩放等；3. 测量单位：微米、毫米、厘米、英吋任选；4. 图像增强：对比度均衡、膨胀、腐蚀等；5. 图像处理：图像锐化，边缘平滑，二值化，边界滤波，分析目标擦除、孔洞填充，手工擦除，手工连接，粒子属性查看、设置标尺、网格等功能；6. 分析参数：（1）几何参数：每个颗粒的质心 X、Y 坐标位置，像素； （2）当量几何参数：等面积圆直径，等周长圆直径，长径，短径，长径比； （3）外接几何参数：每个颗粒的外接圆直径； （4）光密度参数：图像 R、G、B、灰度分布； （5）形态学参数：长径比，圆度系数；

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