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美国SOC710SW

仪器编号
710SWIR
仪器参数
[{"帧频":"20fps"},{"空间分辨率(IFOV)":"可选"},{"视场(TFOV)":"可选"},{"成像分辨率":"640*640"},{"光谱分辨率":"5nm"},{"光谱范围":"900-1700nm"},{"成像方式":"三维"},{"使用状态":"地面"},{"工作原理":"推扫型"}]
生产厂家
北京安洲科技有限公司
仪器介绍
成像系统　　SOC710SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器，光谱范围为900nm～1700nm。　　SOC710SW具有高光谱分辨率 (5 nm), 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 探测器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W)，使得SOC710SW可以14-bit同时收集640像素、128个波段的光谱信息。这保证了所有应用里，获得的是最高质量数据。使用简单和实时处理　　SOC710SW是一个完整的系统，开箱之后即可使用。　　系统采用SOC的HyperSpect? 操作软件和HSAnalysis?校准和分析工具进行标定和使用前设置。　　数据以开放的BIL二进制格式保存，可以兼容第三方分析软件。无需额外的扫描仪或软件。　　可选的SOC MIDIS?处理器以最优的电脑速度快速执行光谱处理，克服了大部分成像光谱仪在实时数据处理方面的瓶颈。　　MIDIS处理器具有多个相关通道同时监测测量数据和三光谱积分，使得MIDIS处理器有能力克服当今数据处理的难题。　　配备了一个高质量的成像分光计、标定和分析软件、高速低噪InGaAs线列和完整的扫描系统，SOC-710SW通过高速USB接口可以记录900nm到1700nm光谱范围内、5nm分辨率的高质量光谱成像数据。灵敏度高于1.5x1013cmHz/W（1550nm）。　　SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据，可以很容易的用第三方分析软件打开，如ENVI软件。无须数据格式转换。技术参数：应用领域：

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