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x射线小型台式XRD-XRF联用仪 BTX PROFILER单样品系统

仪器编号
BTX-Profiler
仪器参数
[{"重复性":"0.1%"},{"能量分辨率":"<140ev"},{"分析含量范围":"1PPM"},{"元素分析范围":"Mg-U"},{"仪器种类":"台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF"}]
生产厂家
美国伊诺斯（Innov-x）中国服务中心/深圳市莱雷科技发展有限公司
仪器介绍
X射线衍射技术/发展史X射线衍射技术/集成技术BTX PROFILER的XRD技术来自于美国宇航局NASA埃姆斯实验室，该技术曾被美国宇航局火星计划"好奇号"、"漫游者"使用过；XRF技术则是奥林巴 斯ED-XRF技术的结晶，两大技术结合，可以提供材料的元素、成分、结构等全方面的信息，可减少实验成本，节约时间和空间。BTX PROFILER 采用两套独立的X射线源和探测器，以保证快速获取全面优质的数据信息，XRD部分使用CCD二维面探测器，该探测器可以获取整个德拜环的衍射数据信息，XRF部分则采用SDD探测器，实现更低的检测下限和更高的灵敏度。技术规格XRD和XRF组合技术①XRD微聚焦X射线管 ②XRD X射线束 ③XRD准直器 ④XRD样品 ⑤CCD探测器 ⑥XRF X射线管 ⑦滤光轮 ⑧XRF X射线束⑨XRF样品 ⑩ XRF SDD探测器用于化合物分析的二维XRDXRD采用透射衍射几何技术，使用能量敏、位敏的二维CCD面探测器，实现了仪器的小型化和更为紧凑的结构1、探测器收集整个德拜环的信息而非传统台式机只能收集德拜环一个截面的信息，增大了数据2、检测快速，全谱显示而非步进扫描，普通样品 分钟即可无测角仪的XRD使用样品振动系统(样品在检测过程中以6000hz的频率随机振动)，替代传统台式XRD测角仪可以实现以下功能：1、样品制备简单：样品无需制片、压片、刮片，只需得到<150um的颗粒即可；2、实现样品颗粒的全方位角度的检测；3、完全消除检测过程中晶体的择优取向；4、增加了样品检测量用于全元素分析的能量色散型（ED）XRF1、 大功率射线管，配以超大面积SDD探测器；2、真正实现了在现场进行快速，准确的检测；3、直接显示元素的ppm含量与百分比含量；4、全元素分析，从镁 （Mg）到铀（U）之间的所有元素； 5、7个滤光片设置，可根据元素自动选择最优滤光片；6、可选配氦气装置进一步提高轻质元素的检测效果；XRD-XRF联用仪/软件XRDXRD使用xpowder分析软件，该软件可提供包括背景扣除、平滑处理、Ka2峰剥离、多谱图叠加等功能，可以进行物相定性定量分析晶体结构分析、结构精修处理、结晶度分析、晶粒度分析等功能。物相定量分析可以使用RIR值及里特维德全谱拟合，实现复杂混合物的准确定量，尤其适合于矿物的全岩成分分析。XRFXRF数据处理软件提供有关材料的定性、定量信息，其中包含光谱视图和元素峰值辨别。定量分析使用基本参数（FP）法。在实际应用中，可以使用一系列用户 指定的认证标准对这些基本参数校准进行优化（经验分析）。使用离线“方法建立器”软件包可以优化校准曲线， 自行定制分析程序，并将分析程序下载到分析仪器。软件还提供了其它一些用于分析的性能，如：查看元素范围、可选峰值识别、显示含量结果，以及样件组的频谱覆盖。XRD-XRF联用仪/应用领域BTX PROFILER集成二维XRD技术及ED-XRF技术，可对材料实现全面的分析检测，提供材料的元素组成、化学成分、晶体结构等方面的信息。广泛应用于地质矿产、石油地质录井、地球化学、制药、催化剂、法医、材料等工业及科研领域。矿物鉴定 XRD录井钻井 催化剂研发 选矿效率矿石品位 能源勘探 腐蚀物鉴定与防腐石油地质 药物多晶型 材料成分及结构XRF录井钻井 真假药识别 教育与科研XRD-XRF联用仪/配置1、仪器标配一个样品系统，检测时只能对单个样品进行检测分析。2、可选配氦气净化装置，有利于Mg、Al、Si、P、S等轻元素的检测。

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