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介电材料温谱特性测定仪
仪器编号
SSS
仪器参数
[{"产地类别":"国产介电常数测定仪"}]
生产厂家
北京冠测精电仪器设备有限公司
仪器介绍
介电温谱测量系统一、性能特点: ■ 测试频率20Hz~2MHz,10mHz步进 ■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1%■ 最高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率 ■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗 ■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源 ■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能 ■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用 ■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面 ■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序 二、主要用途:无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性 三、技术参数 测试参数 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 测试频率 20 Hz~2MHz,10mHz步进 测试信号电 f≤1MHz 10mV~5V,(10%+10mV) 平 f1MHz 10mV~1V,(20%+10mV) 输出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 基本准确度 0.1% L 0.0001 uH ~ 9.9999kH C 0.0001 pF ~ 9.9999F R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ 显示范围 Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S D 0.0001 ~ 9.9999 Q 0.0001 ~ 99999 θ -179.99°~ 179.99° 测量速度 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s校准功能 开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准 等效方式 串联方式, 并联方式 量程方式 自动, 保持 显示方式 直读, Δ, Δ% 触发方式 内部, 手动, 外部, 总线 内部直流偏 电压模式 -5V ~ +5V, (10%+10mV), 1mV步进 置源 电流模式(内阻为50Ω) -100mA ~ +100mA, (10%+0.2mA),20uA步进 比较器功能 10档分选及计数功能 显示器 320×240点阵图形LCD显示 存储器 可保存20组仪器设定值 USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support) 接口 LAN(LXI class C support) RS232C HANDLER GPIB(选件) 四、温控装置:试验温度范围:-196°C---1500°C(温度范围可选)升温速率匀速可调测度精度:0.5°C温度波动度:3°C
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