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大尺寸镀层测厚仪

仪器编号
大尺寸镀层测厚仪
仪器参数
[{"产地类别":"进口X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家
铂悦仪器（上海）有限公司
仪器介绍
大尺寸镀层测厚仪 M2 BLIZZARD M2 BLIZZARD是布鲁克公司最新推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO 3497，对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计，非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品，例如大型印刷电路板。该仪器采用全新的、世界领先 的XSpect Pro软件进行控制。PCB分析的理想解决方案主要特性：开槽构型，带可伸长的“超大尺寸”样品台可以调节槽缝间隙（10或20毫米）设有大型、耐用的样品托盘，用于样品定位全新优化XSpect Pro操作软件最先进的XData软件用于应用程序，标准样品与数据库管理可自定义设置用户界面和测试结果界面具备波谱自动保存功能，用于测量后结果的再处理以及存档用户设定公差，可以方便地判定“合格/不合格”“峰值查找器”，用于定性分析未知样品软件含有测试报告模板以供客户编辑使用配置工业强度的脚踏开关，用于“开始/停止”测量（可选项）可完全设置SPC软件，配合客户工艺需求（可选项）仪器设计简洁坚固，只需一条USB电缆与PC连接技术参数M2 BLIZZARD 的两种探测器选项。可选用比例计数器（PC）或 高分辨率硅漂移探测器（SDD）激发：微焦点，高性能，带侧窗，钨靶高电压：50 kV，50W探测器：大面积正比计数器，感应面积1100mm，能量分辨率<950eV（Mn-K）选配探测器：高性能Peltier冷却XFlash硅漂移探测器，感应面积30mm2，能量分辨率<150eV，（Mn-Ka）光斑尺寸：固定或4个自由切换，0.1到1.5mm；其他准直器：例如槽式样品视图：高分辨率彩色摄像系统，放大倍数~30倍样品台：手动塑料样品托盘，Z轴自动聚焦，行程:30mm定量分析：总体分析：基于标样的经验系数法模式，无标样的FP法（基本参数法）模式；镀层分析：FP-基本参数法模式供电：110/230 VAC，50/60 Hz，最大功率150W尺寸（宽x深x高）：1055x688x430mm重量：75kg

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