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Rtec UP 台阶仪

仪器编号
UP-DUAL MODE
仪器参数
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生产厂家
南京冉锐科技有限公司
仪器介绍
美国Rtec双模式台阶仪特点：一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜白光干涉白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描，对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。? 最好的技术来实现高Z向分辨率? 白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高分辨率。? 快速图像处理系统达到400万像素? 四色LED相机? 更大的垂直测量范围达10毫米? 150 mmx150mm马达控制平台。? 样品粗糙度，粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量，如陶瓷、塑料和辊钢。? SPIP专业数据分析软件原子力显微镜探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的测试。提供扫描范围70 x70um，探针更换简单。? 最好的技术来实现Z和XY方向上的高分辨率? X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。? 线性XY压电陶瓷扫描? 包括振动和不振动的模式? 可选的侧向力和相位模成像

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