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仪器编号: Genius IF
仪器参数: [{"行业专用类型":"通用"},{"重复性":"0.1%"},{"能量分辨率":"小于130 eV"},{"分析含量范围":"ppm---100%"},{"元素分析范围":"C(6)---Fm(100)"},{"仪器种类":"台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF"}]
生产厂家: 上海泽权仪器设备有限公司（泽泉国际集团）
仪器介绍: 一、主要特点(1)、可对C(6)-Fm(100)(次ppm~100%)进行无损定性、定量分析；(2)、采用专利WAG(Wide Angle Geometry)技术，配备8个二次靶；(3)、8款管滤光片，更快更精确的测定微量及痕量元素；(4)、标准配置硅漂移探测器SDD，适于高和低原子序数的元素分析检测；(5)、针对轻原子序数元素，可配备分辨率达123eV的SDD LE探测器；(6)、外型坚固耐用，适于移动实验室，符合冲击试验MIL810E规格；(7)、检测光斑可变，适于不同尺寸和形状的样品检测；(8)、配备集成电脑、专业nEXt?分析软件，操作方便；二、二次靶激发技术介绍二次靶激发技术能最大程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。如图，样品为含少量Cr，Mn，Fe杂质的Ni合金。当直接激发时(绿)，杂质元素的吸收信号被Ni元素的吸收信号淹没；相反，使用Ni二次靶激发时，杂质元素的吸收信号被大大加强。三、主要技术参数系统规格SDD 版本SDD LE测量范围F(9) - Fm(100)C(6) - Fm(100)测量浓度次 ppm -100%X-射线管靶材Rh靶 X-射线管电压/功率50kV, 50W激发类型直接激发和二次靶激发探测器硅漂移探测器SDD 超级 SDD分辨率(FWHM)129eV 5eV123eV 5eV自动进样器8位工作环境空气/真空/氦气管滤光片8款软件可选二次靶8种操作软件nEXt?分析包(包含基础基本参数法) 选配件16位自动进样器、专业基本参数法、真空泵、氦气净化器等

Xenemetrix偏振X荧光光谱仪Genius IF

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