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能量色散型X射线荧光分析仪

仪器编号
EDX -LE
仪器参数
[{"重复性":"0.1%"},{"能量分辨率":"<140eV"},{"分析含量范围":"10ppm-99.99%"},{"元素分析范围":"Al-u"},{"仪器种类":"台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF"}]
生产厂家
深圳市瑞盛科技有限公司
仪器介绍
服务热线：0755-88866589-8020 联系人：彭先生 手机：15820474478 邮箱：pz@riun-tec.com仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。技术参数：主要规格 测定原理——X射线荧光分析法 测定方法以——能量色散型 测定对象——固体、液体、粉状 测定范围——13Ai～92U 样品室尺寸——最大W370mm*D320mm*H155mm X射线发生部 X射线管——Rh靶 电压——5—50KV 电流——1-1000uA 冷却方式——风冷（附风扇） 照射面积——3、5、10mmю；自动交换 1次滤光片——5种+OPEN自动交换 检测器 类型——Si-PIN半导体检测器 制冷方式——电子制冷 计数方式——数字滤光片计数处理 样品室 测定环境——大气 样品观察——半导体照相机 数据处理部 主机——IBM PC/AT互换机 内存——512MB以上 HDD——40GB以上 分辨率——1024*768点以上 打印机——彩色喷墨打印机 CD——CD-ROM驱动 OS——WindowsVista 软件 筛选分析——简单操作软件 定性分析——测定●解析软件 定量分析——工作曲线 应用性——自动校正功能（能量校正、半峰宽校正） 其他——装置状态监视楞能 分析结果建表功能 分析结果报告书创建功能 环境设置 性能保证范围 温度条件——10℃～30℃（温度变化在2℃以内） 湿度条件——40%～70%（不结露） 电源——AV100v～240v，2A，带地线插座 外围设备（打印机、PC、显示器等）的电源需要另行配备主要特点：深入浅出●利用【筛选分析】画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理装备所有必要功能●标准装备了Rosh/ELV分析所需的必要功能●拥有大容量样品室，因此可以直接测定大型样品使Rosh/ELV的筛选更简单●日常维护量减少（无需液氮）●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

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