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仪器编号: 日立 FT110A
仪器参数: [{"产地类别":"进口"},{"行业专用类型":"电子产品"},{"重复性":"0.1%"},{"能量分辨率":"优于140eV"},{"分析含量范围":"1ppm~99.99%"},{"元素分析范围":"Na~U"},{"仪器种类":"手持/便携式能量色散型X荧光光谱、XRF"}]
生产厂家: 昌信科学仪器公司
仪器介绍: 日立FT110A概要：自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。通过自动定位功能，只需把样品放在样品台上，便能在数秒内自动对准观察样品焦点，省略了以前手动逐次对焦的操作，大幅提高了测量效果。型号名称：FT110A测量元素：原子序数22（Ti）~83（Bi）检测器：比例计数管X射线管：管电压：50kV 管电流：1mA准直器：4种（Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm）样品观察：CCD摄像头（可进行广域观察）X-Ray Station：电脑、19英寸液晶显示器膜厚测量软件：薄膜EP法、标准曲线法测量功能：自动测量、中心搜索定性功能：KL标记、比较表示使用电源：220V/7.5A特长：1.自动对焦功能自动接近功能在样品台上放置各种高度的样品时，只要高低差在80mm范围内，即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。 ●自动对焦功能简便的摄像头对焦 ●自动接近功能最适合位置的对焦 2.通过新薄膜FP法提高测量精度实现微小光束的高灵敏度，通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外，针对检测器的特性开发了新的EP法，可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书，简单方便。 ●新薄膜EP法减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化无标样测量方法可进行最多5层的膜厚测量 ●自动对焦功能和距离修正功能凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量●灵敏度提高镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2●生成报告功能一键生成测量报告书 3.广域样品观察对测量平台（250mm*200mm）上放置的样品拍摄一张静态画面后，可在获取的广域观察图像上指定狭域的观察位置。由此，可大幅减少多数测量点位置的选取时间，以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间。 ●广域图像观察轻松定位

日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪

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