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M1 MISTRAL镀层测厚仪

仪器编号
M1 MISTRAL
仪器参数
[{"产地类别":"进口X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家
铂悦仪器（上海）有限公司
仪器介绍
测定镀层样品厚度及成分例如Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Sn-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pd-Ni-Cu 珠宝及合金分析：M1 MISTRA是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品。不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K（开）表示。

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