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Phenom Particle Metric颗粒测试

仪器编号
ProX
仪器参数
[{"产地类别":"进口"},{"背散射电子图像分辨率":"8nm"},{"二次电子图象分辨率":"8nm"},{"加速电压":"5kv-15kv"},{"放大倍数":"150000"},{"仪器种类":"六硼化铈"}]
生产厂家
复纳科学仪器（上海）有限公司
仪器介绍
Phenom World BV 颗粒测试系统Phenom Particle Metric —— 研究颗粒和粉末的强大工具ParticleMetric颗粒测试系统，以最快、最简便的方式实现颗粒的可视化分析，是微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰图像质量的Phenom飞纳扫描电镜，加上Particle Metric颗粒系统的颗粒图像分析功能，为用户提供了分析颗粒和粉末试样的强大工具。基于飞纳扫描电镜的颗粒分析解决方案ParticleMetric能够使用户根据需要，随时获取所观测颗粒的面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比、充实度、伸长率、灰度等级、长轴、短轴长度（椭圆）、凸壳体、重心、像素点数、凸状物等数据，最终实现ParticleMetric加速颗粒物分析速度、提升产品质量的目的。飞纳扫描电镜颗粒系统软件ParticleMetric的功能1. 可进行以下颗粒分析l 颗粒尺寸范围：100nm ~ 0.1mml 颗粒探测速度：高达1000个/分钟l 颗粒测量属性：大小、形状、数量2. 可以测量的颗粒参数l 面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比l 充实度、伸长率、灰度等级、长轴长度和短轴长度（椭圆）l 凸壳体、重心、像素点数、凸状物。3. 可以提供的图形显示l 按数量或体积的线性、对数、双对数点状图l 任何指定参数的散点图l 单个颗粒的SEM图像4. 可以提供的图形输出l Word版本docx格式的报告，TIFF格式的图像l CSV文件，离线分析的项目文件（.PAME）Pro Suite的一部分飞纳扫描电镜颗粒系统ParticleMetric软件的优势1. 加载ParticleMetric软件的飞纳台式扫描电镜能够轻松生成并分析图像，方便用户采集超细颗粒的形貌信息和颗粒的尺寸数据；2. 全自动的飞纳扫描电镜颗粒测试系统ParticleMetric软件测量可以实现超出光学显微镜、更好景深的视觉效果，为用户提供颗粒物的结构设计、研发和质量控制方面的细节数据；3. ParticleMetric软件生成的柱状图、散点图可以作为报告的内容按照指定格式输出。任何柱状图都可以按照被测颗粒的不同属性，生成数量柱状图和体积柱状图。散点图可以按照任何一项颗粒的特性生成，以便揭示相关联系和趋势。 散点选择的截图4. 直接由Phenom获取图像，识别并确认诸如破损颗粒、附着物和外来颗粒，关联颗粒物的特征，比如直径、充实度、纵横比和凹凸度5. 便捷的操作提升了工作效率并使计划表简单化和可视化6. 无限制的图像采集，可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流或以后参考7. Phenom的易用性和对环境的良好适应力，用户可以将试样最大程度视觉化8. 附有高清图片的统计学数据。飞纳扫描电镜颗粒系统ParticleMetric软件适合的应用领域化妆品行业 食品行业化工行业制药行业陶瓷颗粒以及表面涂层环境颗粒过滤器/筛网公司 配合高倍拼图软件，可实现全样品颗粒分析用Nebula 1可以在SEM样品台上实现干粉均匀分散，可以获取单层颗粒，同时避免颗粒的团聚，保持脆性颗粒的结构完整，为用户提供最佳制样方法。配合ParticleMetric软件使用干粉分散器可以为用户提供的最好的颗粒分析结果。Nebula 1参数粉末尺寸范围：0.1~1500μm分散真空度范围：0~0.8Bar压力设置精度：0.05Bar尺寸和重量规格：390(长)×210(宽)×350(高)，8.5kg隔膜泵：1450(长)×220(宽)×213(高)，4.5kg

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