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irSys? E 近红外光谱仪

仪器编号
irSys? E 1.7/2.1/2.4
照片
类型名称
近红外光谱(NIR)
仪器参数
  • 仪器种类
    实验室
  • 化学计量学软件的名称
    CAMO软件 需要另外购买
  • 测样方式
    漫反射/透射
  • 数据采样间隔
    1nm
  • 扫描速度
    10次/秒
  • 波长范围
    660-1730nm,910-2100nm,910-2390nm
  • 仪器原理
    MEMS
  • 生产厂家
    暂无
    仪器介绍

                       irSys® E 近红外光谱仪是一款由德国著名的Fraunhofer研究所开发以及著名的德国TQ-Systems企业生产的便携式光纤光谱仪,她的最大特点是采用MEMS微机械电驱动镜实现了无磨损的快速光栅扫描,波长范围从660nm到2390nm的近红外光谱,她是一款可以根据使用者的需要选择不同波长范围的光谱仪,具有灵活的结构化模块设计。在检测器不制冷的情况下,也可以实现很高的信噪比SNR,仪器测量一幅全光谱的时间仅仅为0.75秒,这为那些需要快速检测光谱数据的客户提供了实用可能。irSys E 近红外光谱仪的重量仅为840g,无疑为那些需要野外测量的客户提供了携带的便利。 
    产品具体特性以及技术参数如下:

    • 紧凑的结构设计

    • 可在短时间内实现测量

    • 高精度

    • 几乎无易损部件

    • 标准化设计可实现多部件组合

    • 使用方便

    • 简单组合后可实现系统升级

    irSys® E 1.7
    .波长范围:660 nm----1730 nm
    .检测器:  Si 和  InGaAs
    .光谱分辨率:8 nm @ 300 µm 狭缝 
    .信噪比SNR(单次测量):大约 7000:1
     
    irSys® E 2.1
    .波长范围:910 nm----2100 nm
    .检测器:  2 x InGaAs
    .光谱分辨率:11 nm @ 300 µm 狭缝
    .SNR信噪比(单次测量):大约2500:1(未冷却检测器)
     
    irSys® E 2.4
    .波长范围:910 nm----2390 nm
    .检测器:  2 x InGaAs
    .光谱分辨率:11 nm @ 300 µm 狭缝
    .SNR信噪比(单次测量):大约1000:1(未冷却检测器)

    irSys® E 附件
    .市电100–220V转换到24V的开关电源
    .USB-电缆带有微型连接器
    .irSys®E系统操作软件
    .USB-驱动程序
    .产品资料

    TE 制冷选项
    .无TE制冷
    .1只长波近红外检测器TE制冷
    .2只长波近红外检测器TE制冷
    .1只短波近红外检测器及2只长波近红外检测器TE制冷

    狭缝宽度(可根据客户实际需求安装其中的任意一种缝宽):
    .300µm(350µm,250µm,200µm,150µm)



    Allgemein 一般性能
    Abmessungen:
    结构尺寸:
    138mm x 89mm x 66 mm
    Betriebssoftware:
    驱动软件:
    Windows XP™ 或 Windows 7™
    Datendurchsatz:
    光谱扫描速度:
    80 光谱/分钟
    Einsatztemperaturbereich:
    环境温度
    5 ---- 45 °C
    Gewicht:
    重量:
    840 g
    Schnittstellen:
    通讯接口:
    USB / RS-485
    Standardanschluss:
    标准光纤接口
    光纤, 400 µm; 0,22 NA SMA905
    Standardmesszeit:
    标准测量时间:
    4 毫秒
    Streulichtunterdrückung:
    杂散光:
    -30 dB
    Stromaufnahme:
    功率:
    2.9W ---- 5W
    Versorgungsspannung:
    电源电压:
    24V/2.9W(非TE制冷工况) 或 24V/5W(2个TE制冷检测器工况)
    Wellenlängengenauigkeit:
    波长精度:
    < 1 nm (nach Autokalibration自动校正);
    ± 0,1 nm (Kurzzeitjitter短期)