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仪器编号: AFM5100N
仪器参数: [{"仪器种类":"原子力显微镜"},{"样品台移动范围":"150mm*150mm"},{"样品尺寸":"直径≤35mm，厚度≤10mm"},{"产地类别":"进口仪器"}]
生产厂家: 日立高新技术公司
仪器介绍: AFM5100N除了激光检测方式之外，全新的「自检测悬臂」，在保证高分辨表面形貌观察的同时，大大简化了AFM悬臂操作。特点特点 1. 简便的悬臂安装通常的悬臂是非常渺小而且很难操作，内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多，容易拿取，安装非常简单方便。激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置，操作复杂，而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。悬臂的机械结构，能够以俯视方式直接观察悬臂的位置，从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外，更加尖锐的探针提高了分辨率。通过流程图形式的导航系统，任何人都可以轻松地进行高分辨表面测量。另外，通过设定样品的软硬度和凹凸系数等参数，能够简单确定测量条件。主机上包含减震台、隔音罩、光学显微镜等附件，安装紧凑，体积小巧。通过激光检测方式，能够扩展各种各样的选配功能。另外，只要插拔一根电缆就能够切换成激光检测方式。