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Nicomp 380 DLS 纳米粒径检测仪

仪器编号
380 DLS
仪器参数
[{"仪器种类":"光学颗粒计数器"}]
生产厂家
美国PSS粒度仪公司
仪器介绍
专为复杂体系提供高精度粒度解析方案NICOMP呈现的不仅仅是传统的高斯正态分布，还有更多。。。。。。NICOMP 380DLS纳米粒径分析仪 Nicomp 380 DLS纳米粒径分析仪采用动态光散射原理检测分析颗粒的粒度分布，主要用于检测纳米级别的胶体体系，其粒径检测范围0.3 nm- 10μm。Nicomp 380系列仪器复合采用了Gaussian单峰算法和专利的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所独有的两个主要特点，通过多年在不同领域的实践证明，Nicomp380系列仪器可以有效区分开相邻峰，也可以识别并剔除少数较大粒子造成的杂峰。如下图所示：Nicomp 380纳米粒径分析仪可以有效区分开相邻峰NICOMP 380DLS产品优势检测范围大0.3 nm -10 μm绝对测量无需校准应用领域广检测速度快灵敏度高对团聚粒子灵敏度高（D6）复合型算法高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法结合模块化设计可同机搭载ZETA电位检测模块，还可增加自动稀释和自动滴定等辅助测试模块功能全面使用简捷

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