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Microtrac纳米粒度及Zeta电位分析仪

仪器编号
Nanotrac wave II
仪器参数
[{"产地类别":"进口仪器"}]
生产厂家
大昌华嘉商业（中国）有限公司
仪器介绍
仪器简介：纳米粒度测量——最新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，超细颗粒分析仪器 UPA（Ultrafine Particle Analyzer）研发成功，首次引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生频率变化的能谱概念，快速准确地得到被测体系的纳米粒度分布。2001年，利用背散射（Back-scattered）和异相多谱勒频移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技术，结合动态光散射理论和先进的数学处理模型，NPA150/250将分析范围延伸至0.3nm-10μm，样品浓度更可高达百分之四十，基本实现样品的原位检测。异相多普勒频移技术采用可控参考稳定频率，直接比照因颗粒的布朗运动而产生的频率漂移，综合考虑被测体系的实时温度和粘度，较之于传统的自相关技术，信号强度高出几个数量级。另外，新型“Y”型梯度光纤探针的使用，实现了对样品的直接测量，极大的减少了背景噪音，提高了仪器的分辨率。Zeta电位测量：美国麦奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出最新一代Nanotrac wave II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分析技术相比，Nanotrac wave II采用先进的"Y"型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速，无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，完全消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。技术参数：环境要求：温度，10-35°C主要特点：﹡ 采用最新的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法﹡ 专利的:“Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位，避免样品交叉污染与浓度变化。﹡ 专利的异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。﹡ 专利的可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。﹡ 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。﹡ 专利的快速傅利叶变换算法（FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。﹡ 专利膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。﹡ 无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果﹡ 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度

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