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仪器编号: JEM-ARM200F
仪器参数: [{"仪器种类":"场发射"}]
生产厂家: 日本电子株式会社(JEOL)
仪器介绍: 1.分辨率：STEM0.08 nm TEM0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector） 2.放大倍数：STEM 100 to 150,000,000x TEM50 to 2,000,000x 3.加速电压： 200 kV 4.球差校正器STEM Cs corrector Standard TEM Cs corrector Optional 5.其他附件EDS/EELS /CCD camera, etc.原子分辨率S/TEM 标配照明系统的球差校正器，STEM分辨率 0.08 nm, 为世界最高的商业化透射电镜，同时使其具有无与伦比的分析功能。极强的抗干扰能力和超高稳定性 JEM-ARM200F采用多种新技术和设计确保实现原子级的分辨率和分析能力。可以选配成像系统的球差校正器点分辨率可以提高到0.11 nm. 操作极为简单克服了球差校正透射电镜难于操作的难题。