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仪器编号: SID4
仪器参数: [{"帧频":"100Hz"},{"空间分辨率(IFOV)":"29.6μm"},{"视场(TFOV)":"40°"},{"成像分辨率":"400*300"},{"光谱分辨率":"1nm"},{"光谱范围":"190-1200nm"},{"成像方式":"干涉型"},{"使用状态":"地面/机载均适用"},{"工作原理":"其它"}]
生产厂家: 上海屹持光电技术有限公司
仪器介绍: Phasics波前传感器法国Phasics 公司的产品基于其波前测量专利技术，即4 波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。具有如下独特技术优势：高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。具有直接测量高发散光束的能力消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：激光束质量分析自适应光学光学系统测量生物成像热成像，等离子体表面物理型号SID4SID4-HRSID4-DWIRSID4-SWIRSID4-NIRSID4-UVSID4 UV-HR孔径3.6 × 4.8 mm28.9 × 11.8 mm213.44 × 10.08 mm29.6 × 7.68 mm23.6 × 4.8 mm27.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm29.6 μm68 μm120 μm29.6 μm29.6 μm32 μm采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 12080 × 64160 × 120 250 × 250 250 × 250波长400 nm ~ 1100 nm400 nm ~ 1100 nm3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm0.9 ~ 1.7 μm1.5 ~ 1.6 μm250 ~ 450 nm190 ~ 400 nm动态范围 100 μm 500 μmN/A~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS15 nm RMS75 nm RMS10 nm RMS 15 nm RMS20 nm RMS10 nm 灵敏度< 2 nm RMS< 2 nm RMS< 25 nm RMS3 nm RMS (高增益） < 1 nm RMS (低增益）< 11 nm RMS2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm20.5 nm采样频率 100 fps 30 fps 50 fps25/30/50/60 fps60 fps30 fps30 fps处理频率10 Hz (高分辨率)3 Hz (高分辨率)20 Hz 10 Hz (高分辨率）10 Hz 2 Hz (高分辨率）1 Hz尺寸54 × 46 × 75.3 mm54 × 46 × 79 mm85 × 116 × 179 mm50 × 50 × 90 mm44 × 33 × 57.5 mm53 × 63 × 83 mm95 × 105 × 84 mm重量250 g250 g1.6 kg300 g250 g450 g900 g

Phasics SID4 波前分析仪

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