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仪器编号: XD7500,XD7600,XD7800
仪器参数: [{"产地类别":"进口探伤机、探伤仪"}]
生产厂家: 北京锐峰先科技术有限公司
仪器介绍: DAGE X-ray 型号：XD7500 XD7600 XD7800等X光检查在LED，PCB及半导体行业中被认为是最关键的测试步骤。在当今的封装设计中发现缺陷是非常重要的，因此，X光系统必须在不同的观察角度能够提供高分辨率、高放大倍率和高对比度的图像。该设备是标准的配置，能够提供实时的高质量数字式的X光图像，图象的分辨率和灰阶都有很大程度的增强，最大可达70度的倾角观察。仪器介绍：DAGE X-ray检测系统设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管（Open Tube）技术，在放大倍数方面远远超过了采用闭管（Closed Tube）技术的X光检测仪达到亚微米级，能满足客户更高精度的需求。DAGE X-ray型号及参数介绍XD7500 VR X光无损检测系统主要特征：1.最小分辨率：950纳米(0.95 微米)；2.影像接收器左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度；3.图像采集:1.3M万数字CCD；4.最大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm)；5.最大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)；6.系统最大放大倍数: 至5650X；7.显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)；8.安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1u Sv/hr 等等7600 NT X 光无损检测系统1.最小分辨率: 250纳米(0.25微米)；2.影像接收器左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度；3.最大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm )；4.最大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444 mm ) ；5.系统最大放大倍数: 至 6500 X；6.图像采集: 1.3 M万数字CCD；7.显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200 PIXELS)；8.安全性: 在机器表面任何地方 X 光泄露率 < 1u Sv/hr 等等 ……7600 3D X光无损检测系统1.最小分辨率 : 250 纳米 (0 .25 微米 )；2.影像接收器左右偏转角度各70度（共 140 度），旋转360度；3.最大检测区域面积 : 18” x 16” (458 x 407 mm )；4.最大样品尺寸 : 20” x 17.5” (508 x 444 mm )；5.系统最大放大倍数 : 至 6500 X；6.图像采集 : 1.3 M 万数字 CCD；7.显示器 : 20.1" (DVI interface) 数字彩色平板 LCD, (1600 x 1200 PIXELS) ；8.安全性 : 在机器表面任何地方 X 光泄露率 < 1u Sv/hr 等等XD7800 VR或NT 大尺寸样品X光无损检测系统Dage XD7800VR或NT是专门用于大尺寸样品的X光无损检测的系统。主要特征：1.最小分辨率: 950 纳米 (0 .95 微米 )；2.影像接收器左右偏转角度各70 度（共 140 度），旋转 360 度；3.最大检测区域: 24 ” x 30” (610 x 762 mm )；4.最大样品尺寸: 24.3” x 33” (617 x 838 mm )；5.最大样品重量: 10KG ；6.系统最大放大倍数: 至 5650 X ；7.图像采集: 1.3 M 万数字 CCD ；8.显示器: 20" (DVI interface) 数字彩色平板 LCD

DAGE X-ray

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