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博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 L系列

仪器编号
L系列
仪器参数
[{"产地类别":"进口X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家
安柏来科学仪器（上海）有限公司
仪器介绍
博曼L系列产品概述：L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件，L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量。 封闭式样品仓可容纳12"x22"x24"（LxWxH）的样品。XY平台的行程为13"x10"。标准配置包括一个4位置多准直器组件，以及一个可在凹陷区域进行测量的变焦相机。 与其他型号一样，准直器尺寸和焦距可根据不同的客户应用进行定制。 包括可编程的XY平台，为了满足更大样品测测量，XY平台可以移除。探测器采用硅PIN半导体探测器，可升级为高性能SDD探测器。博曼L系列可满足以下类型用户的需求：- 样品的长宽高分别超过12"但小于24"- 需容纳多个样品进行自动化多点测量- 可扩展到更大尺寸的样品，用于未来的项目- 符合IPC-4552A博曼L系列产品参数：类别参数元素测量范围：X射线管：探测器：分析层数及元素数：滤波器/准直器：焦距：数字脉冲器：计算机：相机：电源：重量：可编程XY平台：样品仓尺寸：外形尺寸：13号铝元素到92号铀元素50 W（50kV和1mA）微聚焦射线管190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器5层，每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素4位置一次过滤器/4种规格准直器可变焦4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz110kg平台尺寸：10"x 10"| 行程：10"x 10"高度：280mm（11"），宽度：550mm（22"），深度：600mm（24"）高度：750mm（30"），宽度：700mm（28"），深度：750mm（30"）关于美国博曼：美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。

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