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PL光致发光光谱测量系统

仪器编号
DW-PLE01
仪器参数
[{"仪器原理":"光栅扫描型"}]
生产厂家
北京东方佳气科技有限公司
仪器介绍
此系统可独立进行PL光谱测量，也可以拓展成PL-Raman光谱仪组合,多功能的系统,极高的性能价格比,是光谱研究的有力工具. 应用领域： 常规的光致发光测量； III-V族化合物半导体材料光致发光测量； 荧光性； LD, LED外延晶片PL扫描测量；附加激发源 Ar-Ion 激光器(488 and 514nm) 50-100mW DPSS 激光器(532nm) 100-300mW He-Ne 激光器(632.8nm) 20mW NIR 激光器(785nm) 100mW 其它探测器 线阵CCD 探测器 (2048象素) 400-900nm InGaAs 阵列探测器(NIR512象素) 900-1700nm 高性能低噪声制冷CCD 探测器(-75C) (1024 x 128 或 1024 x 256 象素) PMT 探测器组 (190-900nm) 系统空间分辨率（TEMoo模式） 50um(一般应用) 10um(10x M-plan 透镜) 1um 光束尺寸，在微PL或拉曼系统上的100x M-plan 镜头 用于低温PL的低温制冷系统高性能、低成本光致发光测量系统 宽光谱范围（UV-VIS-NIR） 简单的设计和校准 低噪声和高PL信号探测灵敏度 多激发光源可选 容易找到峰值和FWHM参数 用于聚焦和准直的熔石英透镜组 用于激光线屏蔽的截至滤波片组 1微米精度的电动XY调节台组 2”和4”晶片架 小型凹面全息光谱仪 1024象素低噪声阵列探测器 25mm x 2500mm象素尺寸，16比特，USB接口 包括系统控制器，控制和绘图

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