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天瑞仪器EDX3600H X荧光光谱仪

仪器编号
EDX3600H
仪器参数
[{"重复性":"0.05%(主元素含量大于96%以上样品的RSD值)"},{"能量分辨率":"140±5ev（以Fe55放射源为激发源控制计数率在1000CPS以下得出）"},{"分析含量范围":"ppm--99.99％"},{"元素分析范围":"钠（Na）--铀（U）"},{"仪器种类":"台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF"}]
生产厂家
江苏天瑞仪器股份有限公司
仪器介绍
天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇全球领先的合金分析技术，配备合金测试效果最佳的智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。同时具有合金测试、合金牌号分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。性能特点:高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平针对合金的测试而开发的专用配件SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比天瑞仪器专利产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性；高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制；内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然标准配置：合金测试高效超薄窗X光管超薄窗大面积的原装进口SDD探测器信噪比增强器 SNE光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序整体钢架结构，力度可靠的保证90mm×70mm的液晶屏外形尺寸：660mm×510mm×350mm样品腔体积：Φ320mm×100mm重量：65Kg技术指标：测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：60秒-200秒能量分辨率为：（1405）eV管压：5KV-50KV管流：50uA-1000uA应用领域：检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品

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