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禾苗E8-SPRX射线荧光测厚仪

仪器编号
禾苗E8-SPR
仪器参数
[{"产地类别":"国产X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家
深圳市禾苗分析仪器有限公司
仪器介绍
规格：●外形尺寸 ：380mmx510mmx365mm（长x宽x高）●样品仓尺寸 ：360mm×330mm×50mm（长x宽x高）●仪器重量 ：33.5kg●供电电源 ：AC220V/50Hz●最大功率 ：330W●工作温度 ：15-30℃●相对湿度 ：≤85%，不结露应用领域：●镀层分析：各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析；镀层元素含量分析● RoHS/ELV指令测试元素：Pb（铅）、Cd（镉）、Hg（汞）、Cr（铬）、Br（溴）●无卤检测：测试元素：Br（溴）、Cl（氯）；●合金分析：钢铁、铜类、锌类等成分分析。

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