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仪器编号: FT9400 FT9450 FT9455
仪器参数: [{"产地类别":"进口X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家: 日立仪器（上海）有限公司
仪器介绍: 仪器简介：FT9000系列里最高的机型就是FT9455。搭载着75W高性能X射线管和双向分离工检测器（半导体检测器+比例计数管），符合“薄膜”、“合金膜”、“极微小部分测定”等镀膜厚度测定要求的高性能膜厚度测量仪。FT9455还在镀膜厚度测定功能的基础之上增加了异物定性和查资料成分分析的功能。技术参数：主要特点：搭载在X射线能量分辨率上，优秀的半导体检测器（起作用液化氮）和计数率优秀的比例计数管，能够根据运用需要对应使用。特点是半导体检测器，能够区分Ni和Cu这样相似的元素。它有以下的特点：对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域。15μmΦ的准直管为标准装备。能够测定微小部分镀膜厚度。搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。利用激光能够正确得对焦测试样品。运用微软的软件能够简单得把测定的数据制作成书面材料。