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Filmetrics F3-XXT 薄膜厚度测量仪
仪器编号
Filmetrics F3-XXT
仪器参数
[{"产地类别":"进口在线测厚仪"}]
生产厂家
优尼康科技有限公司
仪器介绍
Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪测量厚度最大到 3 毫米的先进薄膜厚度测量系统对于大多数的膜厚测试系统来说,当厚度大于 100 微米后都变得非常困难。那是因为他们是通过反射率振幅干涉的光谱频率来算薄膜的厚度, 会导致干涉频率超过光谱的分辨率。为了克服这个问题, F3-XXT 配备 Filmetrics 自主研发的光谱仪, 材料达到 3 毫米厚度,它可以很好测量。引用特殊的光学配件,使光斑尺寸不到 25 微米,使得即使是较高粗糙度和不均匀性的 材 料 都 可 以 测 量 。几乎所有的半导体和介质材料都可以很好非常迅速的测试,并且在不到一秒钟的时间就可以将数据输出Filmetrics 优势桌面型薄膜厚度测量的全球领导者24 小时电脑、 Email、在线支持直观的分析软件附 加 特 性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果相关应用硅片厚度光刻胶厚度(如 SU-8 胶)集成电路故障分析玻璃和塑料板材
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