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仪器编号: GCTD-D
仪器参数: [{"产地类别":"进口介电常数测定仪"}]
生产厂家: 北京冠测精电仪器设备有限公司
仪器介绍: 高低频介电常数测试仪GCSTD-D性能特点■ 测试频率20Hz～2MHz，10mHz步进 ■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1%■ 最高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率 ■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗 ■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源 ■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能 ■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用 ■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面 ■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序简要介绍广泛的测量对象无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性技术参数测试参数 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 测试频率 20 Hz～2MHz,10mHz步进测试信号电 f≤1MHz 10mV～5V,（10%+10mV）平 f1MHz 10mV～1V,（20%+10mV) 输出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 基本准确度 0.1% L 0.0001 uH ～ 9.9999kH C 0.0001 pF ～ 9.9999F R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ 显示范围 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S D 0.0001 ～ 9.9999 Q 0.0001 ～ 99999 θ -179.99°～ 179.99° 测量速度快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s校准功能开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准等效方式串联方式, 并联方式量程方式自动, 保持显示方式直读, Δ, Δ% 触发方式内部, 手动, 外部, 总线内部直流偏电压模式 -5V ～ +5V, (10%+10mV), 1mV步进置源电流模式（内阻为50Ω） -100mA ～ +100mA, (10%+0.2mA),20uA步进比较器功能 10档分选及计数功能显示器 320×240点阵图形LCD显示存储器可保存20组仪器设定值 USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support) 接口 LAN(LXI class C support) RS232C HANDLER GPIB（选件）

冠测仪器GCSTD-D高低频介电常数测试仪

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