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PrimeNano sMIM型微波近场显微镜

仪器编号
Prime
仪器参数
[{"仪器种类":"原子力显微镜"},{"样品台移动范围":"100um*100um*10um"},{"样品尺寸":"20um*20um(依型号而定）"},{"定位检测噪声":"0.01nm"},{"产地类别":"进口仪器"}]
生产厂家
上海纳腾仪器有限公司
仪器介绍
ScanningMicrowaveImpedanceMicroscopy，简称为sMIM，扫描微波阻抗显微镜，让您的AFM成为专业的电学显微镜！50nm超高分辨率，~100nm内部电学探测，导体、半导体、绝缘体的广泛适用度，为您提供电导率、介电常数、掺杂浓度纳米级高灵敏度电学表征成像的解决方案。ScanWave?可应用于多种领域材料的研究和发展：微电子材料，铁电材料，工业材料，以及石墨烯、碳纳米管，2D半导体、纳米材料等新星材料等。 独立扫描模块，包括微波信号发生器、探针干涉模块、自主专利同轴屏蔽探针、以及微波近场软件，可应用于各种AFM平台。特殊MEMS结构探针，有效避免散杂磁场的干扰 专业多功能自由切换电学显微镜测试功能体验sMIM-C成像：介电常数、电容变化；sMIM-R成像：电导率、电阻率变化；dC/dV振幅：载流子浓度；dC/dV相位：载流子类型+/-；dR/dV振幅：相关损失系数；dR/dV相位：相关损失系数高精度电学测试，50nm分辨率；工业级高灵敏度、低噪音，“Hardstuff”材料电学测试不再是难题；可实现表面下成像、检测（100nm)不同材料同步测量：导体、半导体、绝缘体、电介质都可以实现，不同的材料甚至分类都可以在一次扫描中观测。简易操作：不需要样品特别处理，不需要将样品放置在导电或电流中，人性化软件设计，操作简单。接触和非接触模式多种扫描模式：即使在做力曲线，只要你想实现，就可以获得电学数据；

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