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比表面及孔隙率测量仪，比表面积及孔隙度测试仪，孔容积测定仪

仪器编号
JW-BK222.
仪器参数
[{"压力范围":"P/Po 准确可控范围达10-4-0.998 ，可测1000点以上"},{"测试理论":"低温氮吸附、静态容量法"},{"测试范围":"比表面≥0.01M2/g，无规定上限"},{"分析站数目":"2"},{"仪器种类":"比表面及孔径分析仪"},{"产地类别":"国产仪器"}]
生产厂家
北京精微高博科学技术有限公司
仪器介绍
比表面及孔隙率测量仪，比表面积及孔隙度测试仪，孔容积测定仪 由我公司自主研发的国内首台双站静态容量法比表面及孔径分析仪JW-BK222，是继BK112之后的又一款经典型物理吸附仪，该款仪器从内部结构上、硬件上及软件上都有较大的创新，是BK112的绝对升级版实用型、高效型仪器。具有两个独立分析站、两套独立脱气系统、两套独立真空系统，重要硬件全部采用国际一线品牌，原装进口，产品综合性能完善，测试结果准确性好、精确性好、稳定性更好，其质量与性能完全能够与国外同类产品相媲美，性价比高，非常适合广大企事业单位及研究院所介孔、大孔材料的快速检测。 比表面及孔隙率测量仪，比表面积及孔隙度测试仪，孔容积测定仪技术参数：仪器型号： JW-BK222 比表面及孔隙率测量仪原理方法： 气体吸附法，静态容量法；测试功能： 等温吸脱附曲线；单点、多点BET比表面积；Langmuir比表面积；外表面积（STSA）；单点吸附总孔体积、平均孔径；BJH介孔大孔孔容积及孔径分布分析；t-plot法、as- plot法、DR法、MP法微孔常规分析；平均粒径估算； 特殊功能：NLDFT法孔径分布分析；真密度精确测试；气体吸附量、吸附热测试；质量输入法测试；测试气体： 氮、氧、氢、氩、氪、二氧化碳、甲烷等；测试范围： 比表面积0.005(m2/g)--至无上限；介孔、大孔分析2nm-500nm；微孔常规分析0.35nm-2nm；总孔体积0.0001cc/g—至无上限；重复精度： 比表面积≤ 1.0%；外表面积≤ 1.5%；最可几孔径≤0.02nm；真密度≤0.04%测试效率： 比表面积平均每样15 min；介孔、大孔分析平均每样2-3小时；分析站： 2个独立样品分析位，可同时进行样品测试；每个分析位原配单独的3L或1L真空玻璃内胆杜瓦瓶，共2个；P0位： 每个样品分析位设有独立的P0管，共2支，由单独的进口双压力传感器控制，完全同分析位分开，可实时、准确测量氮气的饱和蒸汽压，并实时参与理论计算；升降系统： 2个样品分析位原位设有2套独立的升降系统，电动控制、自动控制，且互不干扰；真空系统： 全不锈钢多通路并联抽真空管路系统，真空抽速微调阀系统专利技术，可在2-200ml/s范围内自动调节；真空泵： 外置式进口双级旋片式机械真空泵，自动防返油，极限真空度4-6.7*10<sup-2</supPa；脱气系统： 同位、异位真空脱气预处理系统模块化设计。标配2套同位脱气系统，2个独立加热包，2套独立温控表，均可程序升温控制，升温阶数多达10阶；另可选配外置式异位4位真空脱气系统；脱气温度： 室温—400℃，精度1℃；压力传感： 原装进口硅薄膜电容式多压力传感器，1000 torr(133.3KPa)，精度≤ 0.15％；分压范围： P/Po 准确可控范围达10-4-0.998 ，可测1000点以上；压力控制： 平衡压力智能控制法，压力可控间隔＜0.1KPa，吸附最高压力点可自动控制；数据采集： 以太网数据采集，采集速度快、精度高，兼容Windows 7/XP 32/64位系统；应用领域：●橡胶材料炭黑、白炭黑、碳酸钙、氧化锌、钛白粉、硅胶、氧化硅等化工原料；●电池材料钴酸锂、锰酸锂、磷酸铁锂、石墨、三元材料、隔膜等电极正负极材料；●催化剂材料石化、化工、精细化工、医药、食品、农业等领域催化剂材料；●食品添加剂淀粉、活性白土、膨润土等食品添加剂；●磁性材料四氧化三铁、铁氧体、四氧化三锰等磁性粉体材料；●吸附剂活性氧化铝、分子筛、沸石、活性炭等各种吸附剂 ；●纳米材料纳米陶瓷粉体（氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、碳化硅等）、纳米金属粉体（银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等）、纳米高分子材料、碳纳米管等纳米材料；●其他应用超细纤维、多孔织物、复合材料、矿石、土壤、泥浆、沉积物、悬浮物、特殊纸张等特殊材料。

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