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禾苗镀层测厚仪器

仪器编号
3d
仪器参数
[{"产地类别":"国产X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家
深圳市禾苗分析仪器有限公司
仪器介绍
E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。仪器规格:● 外形尺寸:360mmx600mmx385mm(长x宽x高)● 样品仓尺寸:360mm×400mmx160(长x宽x高,高度可定制)● 仪器重量:50kg● 供电电源:AC220V/50Hz● 最大功率:330W● 工作温度:15-30℃● 相对湿度:≤85%,不结露产品特点:1.1全自动三维样品台1.2 X射线向下照射式,激光对焦1.3小光斑设计1.4测试时间灵活性调节1.4测试时间灵活性调节1.5多规格样品仓1.6 X-Ray探测器