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仪器编号: HELEEX E8-SDD
仪器参数: [{"产地类别":"国产X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家: 深圳市禾苗分析仪器有限公司
仪器介绍: 仪器规格：●外形尺寸：380mmx510mmx365mm（长x宽x高）●样品仓尺寸：360mm×330mm×50mm（长x宽x高）●仪器重量：33.5kg●供电电源：AC220V/50Hz●最大功率：330W●工作温度：15-30℃●相对湿度：≤85%，不结露应用领域：各种电子电器产品RoHS检测●卤素检测●镀层厚度分析硬件配置：RoHS检测仪器探测器●类型：X-123Si-PIN探测器（采用原装进口高性能电致冷半导体探测器）●Be窗厚度：1mil●晶体面积：25mm2●最佳分辨率：145eVRoHS检测仪器X射线管●电压：0~50kV●最大电流：2.0mA●最大功率：50W●靶材：Mo●Be窗厚度：0.2mm●使用寿命：大于2万小时高压电源●输出电压：0~50kV●灯丝电流：0~2mA●最大功率：50W●纹波系数：0.1%（p-p值）●8小时稳定性：0.05%摄像头●微焦距●免驱动●500万像素准直器、滤光片●快拆卸准直器、滤光片系统●多种材质准直器●光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选●多种滤光片、准直器组合，软件自动切换其他配件●进口高性能开关电源●进口低噪声、大风量风扇