鉴于FSM1201型傅立叶红外光谱仪是一种通用型的仪器，配置适中，是基础科研以及以及常规检测必备分析工具。FSM1201型样品室是标准大尺寸，可以适用多种配套附件和装置，包括ATR衰减全反射附件,水平衰减全反射附件, 漫反射附件、镜面全反射附件、恒温气体样品池等，也可以实现TG-FTIR热重红外连用技术等。
FSM1201型主要技术指标：光谱范围, cm -1
400～7800
光谱分辨率, cm -1
1
信噪比, 1min, 4cm -1
20000
图谱采集时间, 4cm -1
1 sec
分束器材料
KBr Ge镀层
检测器
LiTaO3
样品室尺寸,mm
150х190х170
仪器尺寸, mm
520х370х250
仪器重量, kg
28
FSM1201型基础科学应用案例：
文献资料：Correlations in Infrared Spectra of Nanostructures Based on Mixed Oxides
ISSN 1063-7834, Physics of the Solid State, 2015, Vol. 57, No. 12, pp. 2373–2381. . Pleiades Publishing, Ltd., 2015.
标题：基于混合氧化物的纳米结构的红外光谱图相关性的研究
简介：采用SnO2-SiO2体系Sol-Gel溶胶—凝胶技术制造用于传感器的纳米薄膜，用INFRASPEK FSM 1201型傅立叶红外光谱仪及配套MNPVO36型ATR衰减全反射附件测定不同组成的溶胶图谱并找出相关性（图1）。为解决氧化硅基底强吸收峰的背景影响，对纳米薄膜红外图谱采集通过配套的PZO30镜面反射附件完成（图6）。
FSM1201型常规检测适用标准：ASTM D 4053、ASTM、ASTM D 5845、ISO 7106、ISO 4650、ISO 9622、ISO 13884、ASTM D 2124、ASTM D 2238、ASTM D 2357、ASTM D 2702、ASTM D 3124、ASTM D 3414、ASTM D 3594、ASTM D 3677、ASTM D 3900、ASTM D 3921、ASTM D 4660、ASTM D 5576、ASTM D 5594、ASTM D 5670、ASTM D 6047、ASTM D 6248、ASTM D 6342、SEMI MF1188、SEMI MF1391、SEMI MF951、SEMI MF95
部分附件描述：
MNPVO36型ATR衰减全反射附件
用于研究液体、粉末、薄膜的化学成分。该方法大幅度简化了制样过程，适用于快速检测产品质量。
主要性能：
- 7次内部反射保证对低浓度高灵敏的测定；
- 标准材料为ZnSe，可以定制Ge或者Si；
- 吸收层选用厚度为1~50微米；
- 光谱测量时间1~2分钟。
PZO30型镜面反射附件
镜面反射红外光谱法是用于研究薄膜镀层的一种理想的分析方法。无需样品预处理就可以进行表面和薄膜的无损检测并测定薄膜厚度。根据镀层厚度选用相应的镜面反射的角度，我供应附件从10到80°反射角。
片状糊状样品分析附件
液体样品分析附件
气体样品分析附件