你好，欢迎来到试验技术专业知识服务系统

禾苗 E3 -3D 镀层测厚仪

仪器编号
HeLeeX E3-3D
仪器参数
[{"产地类别":"国产X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家
深圳市禾苗分析仪器有限公司
仪器介绍
简述：E3-3D是一款X射线镀层测厚仪器。其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告；精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器；采用小光斑设计，针对大型PCB板小测试点精确定位，避免材质干扰；C型样品仓设计，可容纳大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到精确的测试效果●外形尺寸：360mmx600mmx385mm（长x宽x高）●样品仓尺寸：360mm×400mmx160（长x宽x高，高度可定制）●仪器重量：50kg●供电电源：AC220V/50Hz●最大功率：330W●工作温度：15-30℃●相对湿度：≤85%，不结露探测器●类型：X123探测器（原装进口高性能电致冷半导体探测器）●Be窗厚度：1mil●晶体面积：25mm2●最佳分辨率：145eV●信号处理系统：DP5X射线管●电压：0-50v●最大电流;2mA●最大功率:50W●靶材：Mo●Be窗厚度：0.2mm●使用寿命：大于2w小时高压电源●输出电压：0-50Kv●灯丝电流0-2mA●最大功率：50w●纹波系数：0.1%（p-p值）●8小时稳定性：0.05%摄像头●焦距：微焦距●驱动:免驱动●像素：500万像素准直器、滤光片●系统：快拆卸准直器、滤光片系统●材质：多种材质准直器●光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选●组合：多种滤光片（软件自动切换）、准直器组合十字激光头●光斑形状：十字线●输出波长：红光650nm●光学透镜：玻璃透镜●尺寸：Φ10×30mm●发散角度：0.1-2mrad●工作电压：DC5V●输出功率：<5mW●工作温度：－10～50℃●储存温度：－40～85℃其它配件●开关电源：进口高性能开关电源●散热风扇：进口低噪声、大风量风扇辐射保护●样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线●辐射标志警示●仪器经权威第三方检测，X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》硬件技术●X射线下照式，激光对焦可调样品仓，对于大件样品、异形不平整样品，无需拆分打磨，可直接测试●模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率●最小光斑0.2mm，可针对各种样品中的小测试点精确定位，避免材质干扰，测量结果更准确●空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；静音设计●电路系统符合EMC、FCC测试标准软件技术（HeLeeXEDWorkstationV3.0）●分析元素：Na~U之间元素●分析时间：90秒●界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作●数据一键备份，一键还原、一键清理功能，保护用户数据安全●根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度●配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型应用领域：●RoHS检测：Pb（铅）、Cd（镉）、Hg（汞）、Cr（铬）●卤素检测：Br（溴）、Cl（氯）● 镀层测试：应对各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn等

相似仪器