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梅特勒XP微量天平
仪器编号
XP
仪器参数
[{"校准方式":"自动"},{"重复性":"0.03"},{"测量精度":"百分之一"},{"最大量程":"220g"},{"仪器量程":"100-200g"},{"仪器精度":"百分之一克"},{"仪器种类":"分析天平"}]
生产厂家
东南科仪
仪器介绍
梅特勒XP微量天平DR=变量程;sd=标准偏差采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响梅特勒XP微量天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平,确保称量结果始终准确GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量梅特勒XP微量天平最小称量值(Minweigh)功能:可设置多达3个符合不同质量法规(GMP/GLP/USP)的最小称量值,满足相关质量法规要求,获得无懈可击的称量帮助。如需了解更多梅特勒XP微量天平信息请登录www.sinoinstrument.com查询
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