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Anton Paar原子力显微镜

仪器编号
AFM
仪器参数
[{"仪器种类":"原子力显微镜"},{"样品台移动范围":"180mm*100mm"},{"样品尺寸":"最大6英寸"},{"定位检测噪声":"1nm"},{"产地类别":"进口仪器"}]
生产厂家
奥地利安东帕(中国)有限公司
仪器介绍
仪器简介：原子力显微镜（AFM）或扫描探针（SPM）技术，是测量表面形貌或表面微小作用力准确有效的技术。位于悬臂梁末端的探针与试样表面接触，并对试样表面进行数字化扫描。通过这种技术，我们可以得到试样表面的超高分辨率三维形貌。这项技术特别适用于残留划痕、压痕以及其他纳米尺度表面特征形貌的高分辨率成像。瑞士CSM仪器公司三十年来致力于为全球材料、物理、机械工作者提供先进、精准、全面的材料机械性质测试仪器、分析咨询以及测试服务。我们的主要产品包括： 测量材料硬度和弹性模量的纳米级、微米级仪器化压入测试仪（纳米压痕仪, 显微压痕仪）； 界定膜基结合强度、薄膜抗划擦能力的纳米级、微米级、大载荷划痕测试仪 (Scratch tester) ； 包括真空、高温以及线性往复运动等选项的摩擦磨损测试仪、纳米摩擦仪 (摩擦磨损试验机 ； 最简便易用的膜厚测试仪； 用于三维成像表征材料表面形貌的原子力显微镜 (AFM) 和白光共聚焦显微镜 (Confocal Microscope) 。主要特点：特点 光学显微镜与原子力显微镜的结合使表面量化分析成为可能 光学显微镜可将表面细节放大到具有亚纳米尺寸分辨率的图像 微米与纳米结构的分析 临界尺寸(CD)的测量 对腐蚀结构与粗糙度的测量分析 薄膜表面轮廓分析 弱光学对比度表面测量 生物材料及其他材料表面研究领域的应用 选件 非接触扫描模式 摩擦力扫描模式 磁性力扫描模式 脉冲力扫描模式 静电力扫描模式 热扫描模式 电导显微镜 液体介质测量模块

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