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博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪 G系列

仪器编号
G系列
仪器参数
[{"产地类别":"进口X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家
安柏来科学仪器（上海）有限公司
仪器介绍
博曼G系列产品概述：G系列是博曼最具性价比的一款机型。该机型机构紧凑，没有可移动部件。与博曼其他系列不同，该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上，并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小，可手动调整样品位置测量样品，该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用。G系列标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可升级为包括多个准直器，可变焦点相机和SDD探测器。博曼G系列可满足以下类型用户的需求：- 样品测试量相对较小- 客户或供应商对于镀层提出了新要求- 主要分析珠宝或其他贵金属- 预留摆放空间小- 预算有限博曼G系列产品参数：类别参数元素测量范围：X射线管：探测器：分析层数及元素数：滤波器/准直器：焦距：数字脉冲器：计算机：相机：电源：重量：马达控制/可编程XY平台：延伸可编程XY平台：样品仓尺寸：外形尺寸：13号铝元素到92号铀元素50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器5层，每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素4位置一次过滤器/双规格准直器激光单定焦距4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz25kg不可用不可用高度：125mm（5"），宽度：380mm（15"），深度：300mm（12"）高度：400mm（16"），宽度：400mm（16"），深度：380mm（15"）关于美国博曼：美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。

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