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禾苗heleexE8-SDDX射线荧光测厚仪

仪器编号
禾苗heleex E8-SDD
仪器参数
[{"产地类别":"国产X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家
深圳市禾苗分析仪器有限公司
仪器介绍
仪器产品规格：●外形尺寸 ：380mmx510mmx365mm（长x宽x高）●样品仓尺寸 ：360mm×330mm×50mm（长x宽x高）●仪器重量 ：33.5kg●供电电源 ：AC220V/50Hz●最大功率 ：330W●工作温度 ：15-30℃●相对湿度 ：≤85%，不结露应用领域：各种电子电器产品RoHS检测●卤素检测●镀层厚度分析产品特点：1.2多规格样品仓1.3 X-Ray探测器1.4多种规格测试光斑1.5小细节大智慧

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