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JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜

仪器编号
JEM-2800
仪器参数
[{"放大倍率":"最高2,000,000"},{"加速电压":"最高200kV"},{"分辨率":"0.21nm(点分辨率）"},{"仪器种类":"场发射"}]
生产厂家
日本电子株式会社(JEOL)
仪器介绍
JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品，在兼顾高分辨高稳定性的同时，最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计，除了让人耳目一新外，还对设置环境更具抗干扰能力。 主要技术指标： 1. 点分辨率：0.21nm； 2. 晶格分辨率：0.1nm; 3. STEM 分辨率：0.16nm； 4. 二次电子分辨率：0.5nm； 5. 能谱：可以安装两个超级能谱 6. 洛伦兹模式：标配

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