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仪器编号: NX-PTR
仪器参数: [{"样品台移动范围":"200mm*200mm"},{"样品尺寸":"200mm"},{"定位检测噪声":"≤0.05nm"},{"产地类别":"进口仪器"}]
生产厂家: Park Systems
仪器介绍: 全自动原子力显微镜实现准确的硬盘磁头滑块测量，让伟大变得简单Park Systems的PTR系列是全自动工业级线上原子力显微镜解决方案，适用于（不限于）长形条、磁头万向节组件(HGA)级滑块以及单独滑块的极尖沉降自动测量。凭借着亚纳米级精确度、高重复精度以及高通量，PTR系列是滑块厂商提高整体产量的理想测量工具。自动化、快速、精确且可重复的极尖沉降测量硬盘驱动滑块制造业要求工具不仅可以快速且流畅地测量极尖沉降，同时保证最高标准的精确度。这便是Park NX-PTR大展身手的领域。在超精确的极尖沉降测量之外，自动化功能可极大程度提高效率。这让NX-PTR成为硬盘驱动器滑块厂商的最佳选择，兼顾最佳的质量和最高的产量。高通量，无需多次参考扫描大多数原子力显微镜需要多次扫描才可以准确测量极尖沉降，首先是大区域参考扫描，随后小区域高分辨率扫描。多次扫描占用大量时间，且限制了通量的提高。我们的扫描系统带来真正的平面扫描，有效地降低扫描次数。此外，True Non-Contact?模式让探针保持锋利，在延长使用寿命的同时，提供更持久的高分辨率成像效果。相应地，Park NX-PTR能够生成感兴趣区域的详细准确图像，而无需进行参考扫描，以便修正扫描器伪影。* 应用自动硬盘滑块测量Park NX-PTR恰恰具备这样的精确且自动的硬盘滑块测量。自动极尖沉降测量与分析借助NX-PTR系统，极尖沉降测量可实现全自动，带来更高的通量，无论是对于载体、长形条，还是滑块。Park Systems的工业级院里子显微镜精确且稳定的全自动化极尖沉降(PTR)测量成为可能。极尖沉降量的监测要求测量精度达到0.1 mm，这意味着离测量表面只有20 μm远。自动墙角测量与分析实现各类墙角的自动测量与分析。自动缺陷测量与分析实现各类缺陷的全自动测量与分析，如表面尖角。NX-PTR摈弃了常见的非线性Z轴电压信号，而是采用超低噪声Z轴探测器，从而带来无与伦比的形貌高度精度。凭借着行业领先的低噪声Z轴探测器，正向扫描和反向扫描间隙得以降到扫描范围的0.15%以内，甚至可以忽略不计，而这时Z轴形貌信号所无法企及的。热漂移和滞后极小，大大降低探针漂移NX-PTR具备极为突出的热稳定性和机械稳定性，从而大大降低热漂移，实现更为精确的测量。一般情况下，横向热漂移率低于100 nm/°C，而垂直热漂移率则低于200 nm/°C。测量控制自动化，释放您的双手NX-PTR配有自动化软件，操作起来轻而易举。您只需要选择想要的测量程序，并设定相应的悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数，便可取得多位置分析。此外，Park的用户友好型界面让您能够随意创建自定义作业程序，以便您完全发挥NX-PTR的实力，满足所有的测量需求。创建新的作业程序极为简单。创建新测量文件只需要10分钟左右的时间，而修改现有的测量文件则不超过5分钟的时间。Park NX-PTR的自动化系统具备：自动、半自动和手动模式，让您掌控全局各自动程序的可编辑测量方法测量过程实时监测自动分析所获取的测量数据　＊　选项自动探针更换（选配）Park推出的自动探针更换系统让您的自动测量程序可以无缝续航。该系统会根据参考图形测量数据，自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换成功率高达99%，让您无需分心监督探针更换！自动激光准直（选配）Park的自动激光准直系统让您无需输入任何数据，便可持续自动测量。凭借着我们先进的预准直悬臂架，激光在自动更换探针时便已对准悬臂。只需要调整定位旋钮，便可在X和Y轴上任意定位激光光点，达到最佳位置。离子化系统可创造更稳定的扫描环境创新的离子化系统能够快速有效地消除样品的静电电荷。由于系统能够让阴阳离子保持完美的平衡状态，样品得以处在极其稳定的电荷环境中。同时，对周边区域的污染几乎可以忽略不计，并将样品操作时意外产生静电电荷的几率降到最低。

Park systems NX-PTR 原子力显微镜

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