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仪器编号: SZ-100
仪器参数: [{"产地类别":"进口"},{"测量范围":"0.3nm ～ 8μm"},{"重现性":"TBA"},{"分散方式":"干湿法分散"},{"仪器种类":"动态光散射"}]
生产厂家: HORIBA 科学仪器事业部
仪器介绍: SZ-100 纳米颗粒分析仪是灵活的描述小颗粒物理性质方面分析工具，如zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定；还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。SZ-100纳米颗粒分析仪典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数宽检测范围，宽浓度范围——样品浓度最大可达40% 自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定软件操作简单功能强大，一键测量双光路双角度粒径测量（90° 和173°）采用微量样品池粒径测量原理：动态光散射法（光子相关光谱法）粒径测定范围：0.3nm ～ 8μm粒径测量精度：2%（NIST 可溯源标准粒子100nm）Zeta 电位测量原理：激光多普勒电泳法Zeta 电位测量范围：-200 mV ～ +200 mV分子量测量原理：Debye plot分子量测量范围：1000 ～ 2×107 Da测量角度：90° 和173°（可自动或手动选择）样品量：12μL ～ 1000μL