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仪器编号: S2 PUMA
仪器参数: [{"产地类别":"进口"},{"行业专用类型":"通用"},{"重复性":"0.001%"},{"能量分辨率":"135eV"},{"分析含量范围":"ppm-100%"},{"元素分析范围":"Na-Am(标准XFlash?探测器)； C – Am(LE XFlash?探测器)"},{"仪器种类":"台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF"}]
生产厂家: 布鲁克衍射荧光事业部(Bruker AXS)
仪器介绍: S2 PUMA专业的解决方案最新推出的全能型顶级S2 PUMA系列介绍 S2 PUMA是德国布鲁克AXS有限公司全新推出的全能型能量色散型X射线荧光光谱仪，可以分析粉末、固体、液体、镀层、泥浆、薄膜、切削、微小样品、大样品、微区选点等各种类型样品。标准型元素测定范围从11Na-95Am，轻元素加强型LE仪器元素测定范围扩展到6C~95Am，含量范围ppm-100%。S2 PUMA具有以下一些特点：第五代XFlash® SDD硅漂移探测器，不需要液氮，标准型典型分辨率135eV@ MnKa 100Kcps。即使在计数率高达250Kcps时分辨率也不下降，线性范围达到500Kcps。HighSense LE探测器分辨率135eV@ MnKa 300Kcps，线性范围达到2000Kcps，轻元素灵敏度比标准型探测器高10倍以上。通过直观的触屏控制(TouchControlTM)操作，简单易学。在测量液体或松散粉末样时采用先抽真空再冲氦气重复进行方式，优点是空气赶走得快，氦气消耗量少，并且可以根据样品的挥发程度选择在常压氦气还是减压氦气模式下测量, 还可以选择在低压氮气模式下进行测量，进一步节约分析成本。一、高灵敏度技术 HighSenseTM 光路，光管-样品-探测器之间距离最短，灵敏度提高20%以上，保证了最高的计数率。最大激发功率50W，最大激发电压50kV，最大激发电流2mA，满功率运行，高计数率可得到更低的检出限和更短的测量时间。HighSense LE探测器测量轻元素灵敏度比标准型探测器高10倍以上。二、先进的探测器技术1、第五代XFlash®SDD探测器4K MCA信号处理器，高清模式记录光谱，信号处理速度更快。典型分辨率：135eV@ MnKa 100Kcps计数率高达250Kcps时分辨率也不下降，线性范围高达500Kcps。帕尔帖制冷技术，不需要液氮，免维护，没有任何消耗。先进的DuraBeryllium? 技术探测器超薄窗膜，厚度仅9微米，坚固、无泄露、耐压。专门设计的DustShieldTM探测器保护帽，避免由于液体泄漏或样品颗粒污染探测器头部，大大延长探测器的使用寿命。测量元素范围：11Na-95Am。2、第五代XFlash® LE SDD探测器4K MCA信号处理器，高清模式记录光谱，信号处理速度更快。典型分辨率：141eV@ MnKa 100Kcps计数率高达250Kcps时分辨率也不下降，线性范围高达500Kcps。帕尔帖制冷技术，不需要液氮，免维护，没有任何消耗。聚合物窗膜，有涂层，强度高、透光率高。与XFlash®SDD探测器相比，Na元素的灵敏度提高8倍，Mg元素的灵敏度提高4倍。测量元素范围：6C-95Am。3、HighSenseTM LE SDD探测器8K MCA信号处理器，超高清模式记录光谱，信号处理速度最快。典型分辨率：135eV@ MnKa 300Kcps无以匹敌的超高计数率，计数率高达500Kcps时分辨率也不下降，线性范围高达2000Kcps，测量结果更准。帕尔帖制冷技术，不需要液氮，免维护，没有任何消耗。聚合物窗膜，有涂层，强度高、透光率高。与XFlash® LE SDD探测器相比，灵敏度提高1.5倍以上。测量元素范围：6C-95Am。三、SampleCareTM 样品保护功能SampleCareTM 样品保护功能充分保障仪器不受样品污染的影响：独特的重要部件污染防护功能确保最长的仪器正常运行时间防止样品渗漏产生故障自动识别液体样品杯避免误操作自动探测样品的机械手光管铍窗保护屏DuraBeryllium®保护探测器的探测器保护帽防止渗漏的液体或样品小颗粒污染探测器四、 TouchControlTM触屏控制（选项） TouchControlTM触屏控制操作，直观、简单、易学，不需要特殊的培训和专门技术，从第一天就可以得到准确的测量结果。可调节的显示屏角度，操作舒适。可实现快速开始测量、快速查找数据、查看谱图、查看仪器状态、用户权限管理等。获得测量结果仅需3步：选择分析曲线、输入样品编号、开始测量。直观的触摸屏操作操作者投入最小快速定义测量工作并开始测量不需要特殊的培训和专门技术，从第一天就可以得到准确的测量结果五、灵活的样品处理有1位进样器、20位自动进样器和可拆卸12位转盘式进样器超大样品室三款配置可选。1位进样器，单个样品送来之后立刻分析，适合每天样品不多的用户； 20位XY二维自动进样器，适合大量的成批样品的分析。可拆卸的12位转盘式进样器，可以分析微区（最小直径1mm）至超大规格样品（最大样品：457x428x 96mm），适合多样性的分析要求。三款均可配置大气（标准）、真空（选项）和氦气/氮气模式(选项)。空气：Ti 以后的所有元素真空 (ISiKα=100%)：最佳的分析性能稳定的固态样品氦气：常压模式，1000mbar (ISiKα=94%) 带有自动进样器，测量10个样品，小于30l/h 测量燃料油中轻元素可得到最好结果减压模式,150mbar (ISiKα=80%) 带有自动进样器，测量10个样品，小于5l/h 用于非挥发性样品和松散粉末样品氮气：测量液体样品成本最低 150mbar: 重油 (ISiKα=68%)六、微区分析高定位精度的限制光阑，1-28mm（7种）之间可选。高分辨率（1280 x 720 ）CMOS 摄像头，精确定位，可以分析特定区域的元素成分。样品图像与XRF分析数据同时保持，便于以后查看。七、功能强大的软件SPECTRA.ELEMENTS 2.0仪器控制及定性、定量分析软件，采用基于图标的友好用户界面，直观简洁地访问所有软件功能。具有清晰的软件结构、等级密码保护功能、分析曲线的自动导航、完善的评估工具、现代感的软件设计等特点。软件功能容易掌握，易于使用，不需要特殊的培训和专门技术，从第一天就可以得到准确的定量测量结果。评估插件可以对测量结果进行重新评估，不需要重新测量样品修改化合评估类型（测量值/固定值/基体）改变粘合剂种类用不同的方法重新评估测量结果自动测量及评估平行样和空白样如果样品有挥发不允许长时间测量或强度太低，需要测量平行样空白样用于石化应用中液体杯膜中污染元素的校正自动进行基体校正O及CH2不能直接测量，通过康普顿散射峰计算O及CH2 的浓度修正的固定α系数法/消去烧失量α系数法铁矿石分析方法这样要求测量结果与烧失量无关增加测量谱线一个元素测量几条谱线校正曲线的下半部分用低含量谱线，校正曲线的上半部分用主含量谱线宽范围的校正曲线增加宽范围校正曲线的准确度报告生成器为打印输出创建自定义模板SMART-QUANT FP 2.0无标样定量分析软件，独特的无标样解决方案，可以使您在不做标准曲线的情况下得到分析结果：元素定量分析对于所有元素范围: F-Am所有浓度范围: ppm – 100%所有材料范围: 氧化物、金属、油品等等......所有制样方法：粉末压片、固体、液体、松散粉末等等……采用独特的直接全谱拟合的方法从测量的能谱图计算组成测量时间仅需5分钟能够定制您自己的无标样分析程序

能量色散型X射线荧光光谱仪

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