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仪器编号: NanoMap-PS
仪器参数: [{"产地类别":"进口仪器"}]
生产厂家: 誉荣电子科技有限公司
仪器介绍: 探针接触式台阶仪 Step Hight Measurement 厚度47nm光栅标准样品,三次重复测量结果(无任何减噪修正，原始数据输出）NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪 AFM同款位移传感器，超高精度压电陶瓷驱动扫描，绝对无内源振动自集成主动反馈式防震系统真正无需额外辅助防震系统，实现高重复性纳米测量纳米量级科学研究的必备产品NanoMap-PS 台阶仪可以应用在半导体，光伏/太阳能，光电子，化合物半导体，OLED，生物医药，PCB封装等领域的薄膜厚度，台阶高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），划痕深度，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量方面。其高精度，高重复性，自动探索样品表面，自动测量深受广大客户欢迎。测量表面可以覆盖多种材料表面：金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，对于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高，稳定性好。热噪声是同类产品最低的。垂直分辨率可达0.1nm 。可测表面，包括透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料，金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等；AEP的技术日新月异。欲了解最新的产品性能参数，请与我们联系。主要参数: 垂直分辨率 0.1nm垂直最大量程 1000um探针接触力 0.03mg-100mg平台范围直径150毫米（可选200毫米或更大）高清图像 4级放大，彩色CCD成像光源双长寿命强光LED金刚石探针 0.5um 到 25um 可选电话：+86-010-68187909传真：+86-010-68187909手机：+86-15611184708何先生公司网址：www.aeptechnolongy.com.cn关键词：轮廓仪、形貌仪、磨损体积测量仪、台阶仪、薄膜测厚仪、三维表面轮廓仪、三维轮廓仪、白光干涉仪、三维台阶仪、三维薄膜分析仪、三维形貌仪、三维粗糙度仪、表面轮廓仪、表面台阶仪、薄膜分析仪、表面形貌仪、表面粗糙度仪、非接触式轮廓仪、非接触式台阶仪、非接触式表面形貌仪、非接触式表面粗糙度仪、接触式轮廓仪、接触式台阶仪、接触式表面形貌仪、接触式表面粗糙度仪、探针式轮廓仪、探针式台阶仪、探针式表面形貌仪、探针式表面粗糙度仪、双模式轮廓仪、双模式台阶仪、双模式表面形貌仪、双模式表面粗糙度仪、三维表面轮廓仪、三维表面台阶仪、三维表面形貌仪、三维表面粗糙度仪维表面形貌仪、三维表面粗糙度仪 stulye profiler，台阶仪，台阶仪，台阶仪，台阶仪，台阶仪，台阶仪，台阶仪，台阶仪，台阶仪，bruker，Daktek，Veeco，Dektak XT，Ambios， KLA-Tencor，D-100，D-120，ST-100，ST-200，ST-300，XP-1/XP-2；XP-100(D100)/XP-200(D120)/XP-300；α-step IQ(100,200,250,500)；α-step P6；α-step P16+(P1,P2,P10,P11,P11,P15)；α-step P16+0F； KLA-Tencor公司光学轮廓仪(白光干涉仪/ 移相干涉仪)；MicroXam 100；MicroXam 1200

台阶仪

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