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牛津测厚仪CMI900

仪器编号
CMI900X
仪器参数
[{"产地类别":"进口X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家
广州普伦仪器有限公司
仪器介绍
仪器简介：CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。技术参数：主要规格 规格描述X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)样品室 CMI900 CMI950－样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室－最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm－XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm还有5种规格任选 300mm x 300mm－Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mmXY轴手动时，269.2mm－XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制－样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能计算机系统配置 IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机分析应用软件 操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包－测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。－基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围：Ti22 – U92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，如Au karat评价材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析－调整和校正功能 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移－测量自动化功能 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能－样品台程控功能 设定测量点连续多点测量测量位置预览(图表显示)－统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书－系统安全监测功能 Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师主要特点：样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围：Ti22 – U92可同时测定5层/15种元素精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽NIST认证的标准片全球服务及支持

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