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Bowman X射线荧光分析仪

仪器编号
101-G，100-B，100-P，1
仪器参数
[{"产地类别":"进口X射线荧光测厚仪"}]
生产厂家
优尼康科技有限公司
仪器介绍
产品描述：美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。Bowman BA-100 Optics机型采用业界最先进的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。Bowman BA-100 Optics机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应最严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。优秀的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的最佳XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。稳定的X射线管●微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点●射线出射点预置于射线管Be窗正中央●长寿命的射线管灯丝●独有的预热和ISO温度适应程序多毛细管聚焦光学结构●显著提高X射线信号强度●获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度●小于100um直径的测量斑点●经过验证，接近完美的测量精度应用领域：常见的镀层应用: PCB行业 Au/Pd/Ni/Cu/PCB引线框架 Ag/Cu Au/Pd/Ni/CuFe半导体行业 Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材 Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材线材 Sn/Cu珠宝、贵金属 10,14,18Kt元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等

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