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仪器编号: Dimension Edge
仪器参数: [{"仪器种类":"原子力显微镜"},{"样品台移动范围":"150mm*150mm可观测区域"},{"样品尺寸":"150mm直径，真空吸附，15mm厚"},{"定位检测噪声":"X-Y≤50pm RMS，Z≤50pm RMS, 典型成像带宽"},{"产地类别":"进口仪器"}]
生产厂家: 布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)
仪器介绍: Dimension Edge 原子力显微镜Dimension家族新成员，闭环扫描，极高性价比快速测量、结果准确、图像分辨率高测试范围广，适用于任何样品的测试先进的纳米尺度测量，适用于各技术水平Dimension Edge性价比高，大样品台AFM的最佳解决方案Dimension® Edge? 原子力显微镜采用最新技术，其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。基于顶级的Dimension Icon®平台, Dimension Edge系统的整体设计使其具有低漂移、低噪音的特点, 大大提高了数据获取速度和可靠性，使用这台全新的仪器，几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。这些检测性能的提高，并没有影响仪器的价格，绝对低于您对如此高性能原子力显微镜的支出预算。此外，视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计，适用于各个研究阶段和科研水平的用户。性价比最高的闭环Dimension系列AFM专利的传感器设计既获得了闭环的精度，又具有开环的噪音水平。显著地降低噪音和漂移，在大样品台AFM上实现了小样品台AFM的成像性能。显微镜和电路的设计既保证了高成像性能，又使得价格适中。快速，精确，高分辨的测量结果全新的可视化操作界面,整体采用流程式设计，确保快速简便的设定各步骤参数5百万像素的高分辨率相机和马达驱动可编程平台，提供快速样品导航和高效多点测量从大范围扫描到最高分辨检测的无缝过渡可在短时间内获得准确结果。适用于任何样品上的任何应用的解决方案开放式平台设计可适应各种实验和样品的需求。新仪器的设计和软件利用了最完备的Bruke AFM扫描模式和检测技术，满足最前沿的应用需求。内置的信号路由模块，帮助研究者根据新的研究方向和实验需求，自定义检测模式。先进的纳米级测量能力，适用于各研究水平创新型模块化设计，不提高仪器成本的前提下，实现更高的测量性能。最新的8型软件，凝聚10几年AFM专业研发精华，常规扫描模式外，根据实验需求，配备各种备选模式。完整的控制平台，既可直观导航，又可进行强大的编程控制。DIMENSION系列AFM提供了最优质的AFM性能Dimension Edge原子力显微镜既具有卓越性能，保留了Dimension ICON系统的诸多技术创新，中等价位的价格与仪器功能达到了最好的平衡。其中最核心的技术是 Bruker创新性的闭环扫描，结合温度补偿位置传感器和模块化的低噪音控制电路，这套针尖扫描部件把闭环噪音减小到了单个化学键长度。为了最大限度的发挥这一优点，扫描器被固定在一个坚固的，具有漂移补偿的桥梁结构上。此桥梁结构基于FPGA的温度控制并快速稳定到极低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力显微镜结合了高生产效率，高精度，大样品台的样品通用性，闭环操作和以前仅在小样品台、开环仪器上才能获得的高分辨率图像等特点，能够获得任何样品的真实图像，实现突破性的实验成果。完备的AFM功能Dimension Edge既包含了各种常规的扫描模式和Bruker专利技术，还提供了针对各种具体应用领域的解决方案，例如纳米级的电学测量，可控环境下的材料表征等。这些功能都能够在广泛应用中获得精确成像和单点谱线测量，例如从太阳能和半导体器件的表征和多相聚合物材料成像，到从单分子到全细胞的生命科学样品的原位成像和单个纳米颗粒的研究。电学表征Dimension Edge不仅仅是把一个AFM探针连接到低噪音电流放大器上，而是开发了Dark Lift模式，Dark Lift是在导电原子力数据把光电效应从样品的本征电导性中清晰分离的唯一方法。它是基于布鲁克已申请专利的，应用磁力显微镜和静电力显微镜中著名的抬起模式（Lift Mode）。系统利用这两种性能以确保在静电电势成像应用的最优化测试。迄今为止，结合了Dark Lift模式的闭环（常损耗量）的扫描电容显微镜（SCM）依然是对掺杂浓度表征的最精确的解决方案。然而，如果研究者想要以最高灵敏度来探测小电压的变化，也可很容易地把抬起模式与表面电势显微镜结合起来。Dimension Edge系统通过双频的方法，能够为任何静电电势成像的应用提高理想的解决方案。布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces北京办公室北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室电话：010-68474806 -630 传真：010-88417855上海办公室上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail：Sales.asia@bruker-nano.com产品咨询热线：400-890-5666 www.bruker.cn\AFM

Dimension Edge 扫描探针显微镜系统

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