仪器简介：电导率-赛贝克系数扫描探针显微镜技术由德国 Panco 公司和德国宇航中心公共研制开发，可以测量样品的电导率和赛贝克系统的空间分布状况，是研究热电材料的最新利器。 技术参数：位置单向定位精度：1 μm 位置双向定位精度：3 μm 最大扫描区域：150 mm x 50 mm 局部测量精度：10 μm(与该区域的热传导有关) 信号测量精度：100 nV 测量结果重复性：优于3% 误差 塞贝克系数：< 3% (半导体) < 5% (金属) 电导率：< 5% (半导体) < 8% (金属) 测量速度：测量一个点的时间小于4秒 主要特点：应用领域 1、热电材料，超导材料，燃料电池，导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量 2、测量功能梯度材料的梯度 3、观察功能梯度材料的梯度效应 4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移 5、导电固体中的传导损耗 6、阴极材料的电导率损耗 7、GMR 材料峰值温度的降低，电阻率的变化 8、样品的质量监控 系统组成部分 1、三矢量轴定位平台及其控制器 2、热量克测量的测温探针 3、接触探测系统 4、模拟多路器 5、数字电压表 6、锁相放大器 7、摄像探头 8、带有专用控制软件和 GPIB 总线的计算机 9、样品架 全球部分用户名单： Beijing University of TechnologyCorning CompanyKorea Research Institute of Standards and ScienceShanghai Institute of Ceramics, CASGermany Air Force Research LabSimens Company Gwangju Institute of Science and Technology Hamburg University Munich University