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仪器编号: Raman-AFM
仪器参数: [{"产地类别":"进口"},{"光谱重复性":"<=0.1cm-1"},{"空间分辨率":"XY~1um,Z~2um"},{"最低波数":"10cm-1"},{"光谱分辨率":"<=1cm-1"},{"光谱范围":"100~4000cm-1"},{"仪器种类":"显微共焦拉曼光谱"}]
生产厂家: 英国雷尼绍公司(Renishaw)展位
仪器介绍: 您可以将inVia拉曼的能力与扫描探针显微镜（SPM和AFM）联用，在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。联用系统优势：原位测量。无需在不同仪器之间移动样品，节约时间，保证正确的分析区域。inVia和SPM/AFM可同时作为独立系统使用，而不会影响两者的任何性能。得到丰富的样品信息。使用AFM记录样品的形貌及相关物理特性。增加拉曼分析样品化学信息的能力，以识别材料和非金属化合物。可实现针尖增强拉曼测量（TERS），获得纳米尺度的化学信息。选择最好的系统：雷尼绍特殊设计的灵活的耦合臂可以用于将inVia与SPM或AFM光学整合。inVia具有极大的灵活性，能够将其直接耦合到如下供应商的各种AFM和SPM上：Bruker Nano SurfacesNanonicsNT-MDTJPKPark